清风徐来_403(UID:637509) 新手上路
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可以，这个属于嵌套模型，存在子组内变差和子组间变差。并且这样取样才有意义。才能真实反馈质量水平。
2022-02-26 17:21
isir建议看一下VDA ,ppap看一下aiag的工具手册
2020-06-14 21:06
笑死我了，做控制图一定要符合正态分布？请问大家是在哪本书上明确看到了说控制图要数据服从正态分布？ 数据服从独立同分布就可以了，用公式计算能力指数时才需要验证是不是正态分布。建议多看一下英文原版资料。
2020-06-14 15:03
单值图，样品容量为1，严格的说不存在组内变异，即没有cpk了，计算的是ppk, 但是统计学意义上的西格玛，来评估过程的话，是总体样本的均值和西格玛都是定值，实际上过程不是这样的，所以用移动极差来评估西格玛，你会发现大多数情况 移动极差的西格玛要稍大于统计学上...
2020-06-14 13:22
全检当然可以用spc,spc是一种质量工具，可以对数据进行分析，计算过程能力，如果过程能力不足，全检肯定会出现时不时不良品，这个时候就运用spc提升过程能力指数，如果方法采取得当，能力指数很高了，发现全检几乎没有不良品了，这个时候就可以考虑用抽检代替全检了。 ...
2020-06-12 21:35
我刚好看了这本书，作者还是很厉害的，解决了我实际工作中遇到的好多经典控制图不适应的问题。 作者的观点是正确的，适应于多品种小批量生产的控制，现在很多机台都是这种生产模式，这样能够实现大统一，非常正确。 比如 一台激光镭射电阻机，生产好多不同的阻值，只能这...
2020-06-12 21:26
很简单啊，分析用控制图是过程声音的反馈，过程可能受控但是能力指数低，就需要减小过程变差或调整过程均值，使能力指数达标后才能延长控制限。说白了就是要改善。
2020-06-12 21:16
不谈虚报，漏报的概率而谈判异准则都是不理解spc的核心统计原理的，就算是完全标准的正态分布按照3sigma原则判，虚报的概率也是很大的，mitab模拟一下就知道了，我认为在没有对过程认识完全之前，只有出界这一条判异原则，spc手册说了谨慎的使用判异原则，会增加...
2020-05-31 17:22
很简单的事，很不认同那些没有找到规律强行解释的回答，方向完全带偏了,不知所云。 本质上是说的一个事情： 3σ＝A2*R＝3R/d2/√N,子组大小变化时，都有3＝A2*d2*√N，用表中数据验证一下就知道了。
2020-05-31 17:22
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