测量系统分析-线性偏倚分析

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为保证我们的测量系的准确性，我们生产过程中，要对测量系统进行测量系统分析，以了解测量系统的变差分量，确定这变差分量是否可接受以及做相应的改善。
以下我介绍一下测量系统分析中的线性偏倚分析，知识有限有不对的地方请多多指教。
决定要对某工序测量外形尺寸的测量系统做线性偏倚分析，此过程变差=0.01mm.要求测量系统偏小于过程变差的1/3.
一、数据收集：
1、    人员：经培训合格的操作人员1位；
2、    测量仪器：测量范围为（0~100）mm的A仪器；
3、    分析样品：取5个分析样品，使用高一级测量仪器测得量值分别为： 
 
        1mm、5 mm、10 mm、50 mm、100 mm。
4、    测量方法：测试人员，在重复性条件下，使用直接测量分析对5个样品测量15次，得到测量结果；
5、    分析环境：23℃，54%RH.
二、分析数据-使用MINITAB工具
1、把数据按MINITAB的数据格式，填入MINITAB工作表中：
 


2、使用MINITAB的量具线性和偏倚研究工具，计算出结果。
   







 



 
3、输出结果如下：
 



4、分析判定：
从上图与数据我们可判定，此测量系统存在显著的线性偏倚，但%偏倚都小于30%，所以对于此过程，此测量系的偏倚可接受；
1）    常量P=0.000<0.05, 斜率P=0.000<0.05,说明存在线性偏倚；
2）    图表与R-S=71.9%也证实了这一结论；
最大%偏倚=17.3%<30%,所在虽然此测量系统存在线性偏倚，但用于此过程是可接受的。不需要修正或改善。
如果需修正可使用此线性回归方程对测量结果进行有效的修正：
Y=1.00002X-0.000722.