使用XRF
;?$zEU#v 最近看到各位在使用XRF時均抱怨誤差太大等等各種問題﹐其實在使用XRF時亦有其特定的要求﹐并不是簡單的將樣品放上去就好了﹔一般來講﹐儀器的定期校正﹑樣品的必要的前處理﹑測試手法等都會影響到測試結果的准確度﹐以下就粗略介紹下個人在使用XRF時對樣品前處理的一些心得﹐希望大家討論﹕bbs.6sq.net0A-dI l(Y7BRXRF測試基本說明﹕1﹑XRF為非破壞性檢測方式﹐可快速得到檢測值;但檢測結果常會受材質不同﹑材料中所含的其他元素所干擾﹐因此XRF的檢測值只可作為篩選的參考。2﹑ XRF只能偵測元素﹐無法鑒別化合物﹐因此對於六價鉻只能偵測總鉻(包含鉻,三價鉻及六價鉻)而無法判定是否為六價鉻﹔對於PBBs及PBDEs只能偵測Br的存在﹐而無法鑒別是否為PBBs或PBDEs。
樣品檢測位置的選取﹕供應商的進料可分成原材料﹑零件或半成品﹐因此檢驗員在使用XRF進行檢測時﹐應該對零件/半成品上不同材質進行檢測。例如一零件上有三種顏色的塑膠﹐則檢驗員應該針對?三種塑膠進行檢測。-质量-SPC ,six sigma,TS16949,MSA,FMEAs
測樣品的準備﹕bbs.6sq.netU)u5~l [ 進料檢驗時IQC需因應不同的材料/零件的形狀﹑尺寸﹑厚度進行樣品的調整及準備﹐以提高XRF檢測的準確性。樣品放置的一個最基本的原則就是樣品應該能完全覆蓋住量測窗口﹐並注意盡量不要有空隙產生﹔但是若樣品無法滿足前述要求﹐則檢測人員應依據下列原則進行樣品的前處理。請注意樣品準備所使用的膠帶不可以使用聚氯乙烯及含有金屬箔。
電線外皮﹕若電線中包含有其他芯線﹐則每一條線都應該分別進行檢測。-质量-SPC ,six sigma,TS16949,MSA,FMEAg4y~[1]zn?#r方法1﹕ 將電線外皮剝下後切成2 cm長度后將數根並排至寬度3~5 mm以上﹐然後以膠帶固定﹔若電線直徑超過5 mm粗﹐則直接量測不需要進行上述處理。h6E;?$zEU#方法2﹕ 將電線去除金屬導線後切成2 mm以下的碎片﹐置入樣品杯中進行量測﹔樣品重量約需2 g左右。+w2t
插頭外部的絕緣材料﹕ 若插頭上平坦面大於 5x5 mm以上﹐則直接進行量測﹔若平坦面小於 5x5 mm﹐則採用下列任一種方法:方法1﹕ 於樣品上削出一足夠的平坦面。bbs.6sq.nets+w)lv o NAm方法2﹕ 將絕緣材削下後再將數個樣品無間隙地平排在膠帶上固定後進行量測。VAZ uDQB(ay方法3﹕ 將絕緣材料剪成 2 mm以下的顆粒後置入樣品杯中壓緊後(減少空氣)進行量測﹐所需的樣品數量約2 g左右。A平板樣品(Plate)﹕必須確保樣品厚度要有2~3 mm以上(若單一樣品厚度不足﹐可堆疊數個樣品至適當厚度)﹔若使用桌上型XRF時﹐則樣品需進行切割。bbs.6sq.net.K6f­Ac_b l#cp粒狀(Pellet)﹕當顆粒的粒徑小於 2 mm﹐則將其置入樣品杯中壓緊﹐減少底部間隙以及空洞﹐樣品重量應有2 g左右﹔若顆粒粒徑或高度大於 2 mm﹐則應將顆粒剪碎至小於 2 mm。
樣品檢測位置的選取﹕供應商的進料可分成原材料﹑零件或半成品﹐因此檢驗員在使用XRF進行檢測時﹐應該對零件/半成品上不同材質進行檢測。例如一零件上有三種顏色的塑膠﹐則檢驗員應該針對?三種塑膠進行檢測。-质量-SPC ,six sigma,TS16949,MSA,FMEAs
測樣品的準備﹕bbs.6sq.netU)u5~l [ 進料檢驗時IQC需因應不同的材料/零件的形狀﹑尺寸﹑厚度進行樣品的調整及準備﹐以提高XRF檢測的準確性。樣品放置的一個最基本的原則就是樣品應該能完全覆蓋住量測窗口﹐並注意盡量不要有空隙產生﹔但是若樣品無法滿足前述要求﹐則檢測人員應依據下列原則進行樣品的前處理。請注意樣品準備所使用的膠帶不可以使用聚氯乙烯及含有金屬箔。
電線外皮﹕若電線中包含有其他芯線﹐則每一條線都應該分別進行檢測。-质量-SPC ,six sigma,TS16949,MSA,FMEAg4y~[1]zn?#r方法1﹕ 將電線外皮剝下後切成2 cm長度后將數根並排至寬度3~5 mm以上﹐然後以膠帶固定﹔若電線直徑超過5 mm粗﹐則直接量測不需要進行上述處理。h6E;?$zEU#方法2﹕ 將電線去除金屬導線後切成2 mm以下的碎片﹐置入樣品杯中進行量測﹔樣品重量約需2 g左右。+w2t
插頭外部的絕緣材料﹕ 若插頭上平坦面大於 5x5 mm以上﹐則直接進行量測﹔若平坦面小於 5x5 mm﹐則採用下列任一種方法:方法1﹕ 於樣品上削出一足夠的平坦面。bbs.6sq.nets+w)lv o NAm方法2﹕ 將絕緣材削下後再將數個樣品無間隙地平排在膠帶上固定後進行量測。VAZ uDQB(ay方法3﹕ 將絕緣材料剪成 2 mm以下的顆粒後置入樣品杯中壓緊後(減少空氣)進行量測﹐所需的樣品數量約2 g左右。A平板樣品(Plate)﹕必須確保樣品厚度要有2~3 mm以上(若單一樣品厚度不足﹐可堆疊數個樣品至適當厚度)﹔若使用桌上型XRF時﹐則樣品需進行切割。bbs.6sq.net.K6f­Ac_b l#cp粒狀(Pellet)﹕當顆粒的粒徑小於 2 mm﹐則將其置入樣品杯中壓緊﹐減少底部間隙以及空洞﹐樣品重量應有2 g左右﹔若顆粒粒徑或高度大於 2 mm﹐則應將顆粒剪碎至小於 2 mm。