公司需推行SPC，目前选定连杆粗糙度Ra0.1项目先行推进，再收集数据、分析用控制图时出现问题（请老手指教）

背景:工序：精磨后抛光 要求 Ra0.1； 多型号同一特性都要求是控制Ra0.1（批多、量少）.
抽样 20组 n=5 上下午个一次（数据经过验证 符合正太分布） 选择均值-极差 图
现CPK=2.596 PPK=1.540 但均值图上有2-3点超出控制限（计算出的USL=0.068 CL=0.0546 LSL好像0.044）但在公差要求内；
首先可以判定过程不受控的，那么应该看或者考虑的是PPK，因CPK是在判定稳定受控的过程后才可以通过计算的，而PPK无此要求。
那么是否通过过程改善使其达到受控状态，但这里有个问题那种情况下我的CPK应比2.596还高，这样的话过程能力不是过剩、浪费吗？
另就是料这方面—各型号连杆但量不多，我的原料不是一个批次（过程）、始终存在组件变差（不管大小）；这种情况是否适用于SPC控制。
做了几年质量，这方面知识看过些书、网上也看了些帖子，第一次实战（机会难得）还是有点迷糊，请各位指教。