spc

1.目的：







　

通過有效的抽樣管制，運用一定的計算對制程能力進行評估，掌握制程品質的異常趨

勢而及時實時地進行改善，預防批量不良的發生，以減少失敗成本，滿足品質的要求．

2.範圍：







　

本司制程中任何工序均適用之，SPC執行現主要是針對制程中形成的重點尺寸，如外形

、折邊等進行X-R管制圖繪制及CA、CP、CPK的分析和改善．


　

3.定義：無．






　

4.權責：







　

4.1 品管部--負責數據量測，記錄整理，進行管制圖的繪制，制程能力(CPK)的計算及相

　 　　 關分析，並主持改善措施的確認與追蹤．



　

4.2 制造部/工程部--針對制程能力不足進行原因分析，並提出改善措施和落實執行．
　

5.SPC管制：






　





5.1 X-R管制圖繪制步驟：







　

5.1.1 搜集數據，現制程主要針對衝壓重點尺寸，外形及折邊尺寸進行管制．
　

5.1.1.1 搜集數據方法：衝壓重點尺寸由IPQC每1.5小時抽樣5PCS進行量測，並記錄所

　 　　　　　 測值，共連續抽樣5組，每組25PCS．


　

5.1.2 繪制X-R管制圖(平均值-全距管制圖)．







　





X管制圖主要用來觀察分配平均值的變化情況；R管制圖主要用來觀察分配變異的







　

　　 　 散布情形．





　

5.1.2.1 將每樣組之數值填入X-R管制圖數據表中．





　

5.1.2.2 求X(讀:X,Double Bar)與R(R:每組中的最大值減去最小值)．







　





X=ΣX/K(X=各組的數據之合計值/樣本數=ΣX/n)，(K:X之合計數,n為x之合計數)






　





R=ΣR/N(R:全距)







　

5.1.2.3 計算管制界限．





　





X管制界限：







　

(中心線)CL=X






　





(管制上線)UCL=X+A2R





(管制下限)LCL=X-A2R(A2是依據每組的樣本數N來決定的系數)

R管制界限：





CL=R