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楼主,加工中心铣出来的工件变差,用0.01的深度卡尺是没办法确认出来的,EV都比pv大,建议依据特性尺寸的重要性换高一级别的量具(三次元)做吧,如果非要做的话!

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24楼的兄弟讲的已经非常明白!

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必须是OK的! MSA分析的是在过程受控状态下的测量系统的变差,如果产品尺寸不合格,导致PV变大的因素就更加复杂和测量系统的变差更多、更加难于分析。

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参加过,被别人培训过也培训过别人!:)

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如果你的均值图没问题那就是第2个测量人员的测量方法有问题(和其他两个不同),比如说取点等细节问题,至于能不能说量具分辨率不够,还不能完全说明,因为分辨率不够在均值图上是很直观的。:)

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楼主,加工中心铣出来的工件变差,用0.01的深度卡尺是没办法确认出来的,EV都比pv大,建议依据特性尺寸的重要性换高一级别的量具(三次元)做吧,如果非要做的话!

2009-02-24 13:03

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24楼的兄弟讲的已经非常明白!

2009-01-04 11:21

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必须是OK的! MSA分析的是在过程受控状态下的测量系统的变差,如果产品尺寸不合格,导致PV变大的因素就更加复杂和测量系统的变差更多、更加难于分析。

2009-01-04 11:19

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参加过,被别人培训过也培训过别人!:)

2008-07-21 09:24

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如果你的均值图没问题那就是第2个测量人员的测量方法有问题(和其他两个不同),比如说取点等细节问题,至于能不能说量具分辨率不够,还不能完全说明,因为分辨率不够在均值图上是很直观的。:)

2008-06-21 16:16

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量具出厂前做计量检定需要做、每年一次的计量检定也在做,所以在做测量系统分析时,只要你选择的量具是坚定合格的,那么就可以不做!

2009-01-04 11:27

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量具在出厂前需要做计量鉴定、每年一次的年检需要做一次来保证合格,在做测量系统分析时你选择的量具保证是OK的,那么就不需要做!

2009-01-04 11:30

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你们主管可真是外星人!呵呵!~

2008-06-05 09:47

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GRR是用来衡量测量系统变差对总变差贡献的指标,包含于产品测量尺寸变差之中,所以说系统GRR超差能否用于判定产品是否合格,是要基于信心,个人认为对结果有一定影响,但不是关键;只是用于产品特性过程控制时,如果GRR超差,进行变差分析时会掩盖其他因素引起的变差,从...

2008-05-16 10:50

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楼上高手,GRR超差不光是关量具是事哦!:)

2008-05-19 08:55

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请教楼上的,什么是“ 如果过程变差已知的话,样本选择倒没有什么难度了。”?我觉得样本选择是最困难的,请教了!:)

2008-06-13 08:49

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不错,很全,很系统@!

2008-04-25 14:19

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游标卡尺一般线性误差不大,可以不做,如楼上所说第2条做GRR分析即可:)

2008-04-17 09:35

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这么多坛友回答这样的问题,不知楼主明白没有哦!:)

2008-04-15 17:09

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KAAPA分析,首先还是选取样件,选50件(覆盖过程),依据标准先判定样件合格与否,再选2~3人进行判定,后将结果做一致性分析...!建议楼主看看手册吧!

2008-03-24 14:43

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需要:) 它起作用的时候就起作用,不需要它起作用的时候就不起作用了!

2008-03-25 14:17

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我觉得是要做破坏性MSA!可以做稳定性分析,选同批次材料同工艺条件同环境生产的产品50件,定期测量,然后数据做单值移动极差分析!:)

2008-03-24 12:41

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当然适合啦!所以说要“选同批次材料同工艺条件同环境连续生产的产品”啊!是要基于信心的!

2008-03-27 09:14

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建议用标准块对比测量!

2008-03-24 14:14

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个人理解,D5为选择最佳的永久措施,而D6为实施和在实施过程中检验永久措施,D6过程中应该跟踪永久措施的实施效果,评估是否需要追补其他措施(控制方法)等。:)

2008-07-14 16:53

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感谢楼主费心总结上传了!:)

2008-01-18 12:49

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建议楼主在论坛里面搜一下,楼主的这个主题可能不下两三个!:)

2008-01-11 16:57

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基准一致,方法一致,测量点选取一致即可~!

2008-01-10 13:57

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楼上的说的对,这个不是你个人的意见,MSA的初衷,呵呵!:)

2008-01-18 16:59

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不是啊!大家都在想,集思广益嘛!

2008-01-08 08:55

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研发、工程、制造、生产、质量,最后由质量提供!

2007-12-13 13:48

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