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2018-04-08 jlusnow 回答了问题, 2018/6 机考美国ASQ CQE
2017-12-26 jlusnow 回答了问题, 37±0.4，用游标卡尺（分辨率0.02）测出来的数据总不是正态分布（用minitab进行正态性校验，P<0.005），但是游标卡尺满足公差的10分之1
2017-12-26 jlusnow 回答了问题, 制作分析用控制图时，如果是全检的话，是否能用3倍总体标准差作为控制线？
2017-12-25 jlusnow 回答了问题, 如何根据过程能力指数、过程性能指数求PPM？
2017-12-25 jlusnow 回答了问题, SPC中CPK的西格玛如何计算？
机考，是全英文的试题，没有翻译。我当时考还以为是双语，结果发现居然没有汉译，那个惨啊
只是提个可能的原因： 选取样品很重要， 一般两类， 每天取一个，持续一定时间 还有就是 持续取一部分样品， 这样是为了排除工艺的特殊变异。 对于你说的数据不是正态分布， 建议先做一下 类似偏倚分析， 测量同一样品N次， 例如30次， 使用假设检验判断一下测...
如果每一台都测量， 可以考虑 单值移动极差和均值图。 虽然这个图本身用于破坏性试验或者样品原则上不存在组内差异。 对于你说的总体均值和方差， 因为你的样品量是在增加的，或者说产品是持续生产的， 原则上只存在一个时间段内的样品 总体均值和标准差。 例如，我有...
楼主， 如楼上所说， 这只是根据理论（其实就是正态分布）计算的结果。 另外就是你需要提供Cpku和Cpkl的数据， 然后通过正态分布 计算不良率 至于楼上有人说的是一个范围， 是的。 那是在考虑 推算出来的 西格玛（标准差）是有置信区间的， 所以就有了范围
简单来说， Cpk和Ppk计算有所不同。 主要是σ 不同。 SPC 中的 Cpk 使用σ 计算公式有两种 R平均/D2， 和S平均/C4， 前者用于X-R图，或者用于X-s图 如果你收集了很多数据， 要计算Cpk， 就可以按照公式简单计算， 计算每组R值，...
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