lijingping(UID:426905) 初级会员

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2017-03-30 11:18

产品合不合格与过程是否稳定是两个不同概念，而且客户有要求做，原则上还是要做。

2013-07-25 15:40

不懂啥也不说具体一点，谁会从头到尾给你解释一次。

2013-07-25 15:35

基本上没啥区别，计算结果虽不是完全相同，但很接近（差异推测主要来源于常数的推导过程）。用常数的方式计算目的只是计算方便。

2013-07-25 15:32

是的！！！！！！！！！！！！

2013-06-04 08:20

答案A应该无异议，三个数据由小变大，从变小、变大、不变中必定选变大； 答案D严格来讲好像不对，因为这三点的情况是3点中有2点在同侧B区，八条判异准则中均没有说这样判异准则。

2013-06-03 17:07

一、a 二、按那个结果关键要看测量系统是用于过程控制还是产品控制。（过程统控是指需要用到测量和数据进行方差、标准差等方面的统计分析，产品控制是指单纯用于判定产品合格与否），你这种情况表示测量系统用于判定产品合格与否都不能接受，如果你的抽样方法没有刻意的提取不...

2013-05-28 08:30

原因相同，只识别最严重的一个后果即可；原因不同，将不同原因的后果都识别出。

2013-05-28 08:25

人认为有外校的设备一般不需要再做偏倚分析，偏倚是为了分析准确性，而校准报告就指有各级主要量程的偏倚量结果，外校合格一般准确性已有保证。

2013-05-28 08:34

请问你的偏倚最终判定标准是偏置信区间不包含0（即偏倚显著），作为偏倚不合格的依据？按手册上的这样的要求，但我们在实际使用中，当偏倚是著时还要考虑偏差与公差/过程变差的比值，手册中虽没有这样的要求，但我认为这样相对的判定更合理。

2013-05-28 13:50

相关系数R-Sq只是0.1%，表明不量程与偏倚的线性关系不显著（可以说不存在线性关系） 从量具偏倚的p值看，各量程的P值均大小0.05，表明各量程上的编倚不显著。

2013-05-08 14:52

放大样品间的差异，减少重复测量及不同人测量均值的差异。

2013-05-06 09:50

我理解是不合格才会有特采，特采是对不合格的一种处理方法，并非否定原不合格的判定改判为合格。

2013-05-04 16:27

我理解这是规定量具所允许的偏差量，存超过这个偏差量是还在使用，那么要对这时所测量的产品进行追踪，确认产品的符合性，这个规定并无问题。按你前面所说的思意，我理解是报废时，量具可以超过或未超过这个偏差量都可能报废？

2013-05-08 08:37

孤陋寡闻，首次知道还有这样的要求。 理论上不是在发现量具异常时，该量具一直在使用，这时候才要追溯量具在异常期间所检查的产品吗？量具报废与追溯产品有关系吗？

2013-05-04 16:37

从结果看，测量系统用于过程控制可以接受，但用于产品控制（判定产品合格与否）不可接受。

2013-05-04 16:22

不良品率，用P图。。。。。。。。。。。。。。

2013-05-03 16:30

1、 SPC数据采集过程是不是只能采用抽检？如果是小批量的产品，一次只生产30个左右，客户要求上SPC，将这30产品全部检测，用检测出的数据做单值极差图，用全检数据代替抽检，是否合理？ 答：抽样的频次并无明确固定的要求，全检也同一提抽样的频次，控制图本来就是...

2013-05-03 16:44

分析表已收到，看了，函数及结果均没有问题。 但不知真值10是否理论值，原则上这个真值是要用比现在分析的测量仪器更高一级精度的的仪器重复浊量得出来的均值。

2013-05-02 12:16

hr-lijp@163.com

2013-05-02 10:53

那里书说直接用标准差？？？？？

2013-06-07 17:08

本帖最后由 lijingping 于 2013-4-28 17:03 编辑 D这个答案应该不正确吧！ 标准差是0.06，变差的99.73%的置信区间的宽度为0.06[i]6=0.36，0.36[/i]1/10=0.036 0.072应该是按1/5计算...

2013-04-28 17:02

要理解这段话的核心精髓，PFMEA考虑的是过程因素造成的失效，这里讲的设备满意设计要求是从设计的角度考虑将设计原因造成的设备不当而导致产品的失效不应考虑，如设备确定用什么型号的设备，某个参数设定多少，你过PFMEA识别时就不用识别现用的不良是因为用这个规定型号...

2013-04-01 09:37

SPC分两个阶段，一个分析，即研究稳定过程的管制限；二是控制，在管制限确定下来之后的监控，只是管制限确定下来后才能实现实时监控的功能。

2013-04-01 09:25

FMEA有要求你假定测量系统一定无问题吗？ 而且，就算做了测量系统分析，但你天天做吗？？不天天做，能确保绝对没有可能产生异常吗？就算天天做也不一定能保证吧？ 测量系统分析能分析检验过程做成不合格的产生吗？例如如：你进行尺寸测量的分析，能分析出测量过程中做成...

2013-04-01 16:09

PFMEA的前提是默认上工序的是合格的，其核心是要说明只识别当前过程原因所造成的失效，目的是为防止识别的失效不断重复。 检验绝对是一个步骤，只是它不能影响（非它原因引起的）不合格品的产生与否，但检验的过程同样也有可能引起产品的不合格发生（例如：外观检验，那这...

2013-04-01 09:23