bobo1045(UID:559396) 新手上路
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- MSA (测量系统分析) 5 0
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1590 次浏览 • 2 个关注 • 2014-11-12 10:55
1389 次浏览 • 5 个关注 • 2014-11-02 09:50
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2楼已经说的非常好了 你的MS也可以说非常好了 非要改进只能从量具本身着手了除非你的取样时刻意挑选合格品去做，导致产品偏差偏小，导致你的研究变异GRR偏大。
2014-11-15 22:50
问题1：平均值太搞笑了吧？（单纯偏大或者偏小到是可以考虑用，如果只是机器的不确定度大，平均值没有任何意义，加修偏只会增加偏差！） 用不同量程的真值（高精度）和测量值（低精度）去做线性和偏倚分析，根据P值决定在那个量程上做相应的补正。 问题2：没明白你的表述。
2014-11-15 22:38
我和楼上的理解不一样 1：公差的1/10。 20±0.5 要求量具精读到0.1（公差是1,1/10之后应该是0.1而不是0.01），估读到0.05（估读对于分辨力非常重要）. 2：过程变差的1/10。正常来讲因为抽样的10个产品是从生产中随机抽取的，是有很大的...
2014-11-15 22:16
我理解的MSA是面向测量系统的的，而不是面向产品尺寸的。 针对量程可以做线性和偏倚。 针对稳定性可以用标准件控制图。 针对人和设备的交互作用可以做GRR。 做到极致也就是在不同的量程的尺寸上做GRR。（自己的独创的：GRR的线性和偏移分析） 始终搞不明白为什么...
2014-11-15 21:51
正好相反呢！生产的产品是有波动的，量具要能测出这种生产的波动，所以要做GRR。即看人和量具的偏差占过程的偏差百分比。 你们是负责检验量具的单位，你们会有标准的量块，它是有所谓真值的，所以只需要用标准的量块去分析被测量具的偏倚，线性和稳定性并进行相关的校正就ok...
2014-11-15 21:41
个人认为张三的思路是最正确的，做法的话应该将6台电子称全部用于分析，应该是6乘以3乘以10，共180组数据。理由如下： 1.面向对象解决问题，就如同研究CPK是整个过程的还是只研究一部分过程还是只研究设备的CMK!我们做的是测量系统分析，注意是整个测量系统。...
2014-11-15 20:19
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