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2019-08-31 Roy_17 回答了问题, 关于控制图和过程能力中西格玛计算使用常数或直接计算的困惑
2019-08-30 Roy_17 回答了问题, 均值-极差控制图的控制限计算的问题
2019-08-29 Roy_17 回答了问题, 黑带真题求教-CP,CPK
2019-08-29 Roy_17 回答了问题, 特殊特性的哪道工序做SPC
2019-08-29 Roy_17 回答了问题, 体系小白发问54：设备的 压力表、仓库的温度表、办公室电子钟等需要做MSA或校正吗
计算出的是组内标准差，处以系数是为了估计总体的标准差。算cpk是用总体标准差算的。
应该是3R/d2 再除以根号等于A2R 你可以算一下。n为子组样本。极限中心定理，均值的标准差为总体标准差的根号n分之一。可以看下统计基础
假设USL-LSL=2p$, u-(USL+LSL)/2=k$, cpk=p/3-k/3=cp-k/3 $为西格玛。F（x）为标准正态分布，则缺陷率=1-F（k+p）+F（k-p）。缺陷率和p k有关，如果已知cp和cpk就可以算出p值和k值，则可以算出缺陷...
这个和最终尺寸相关的过程参数有哪些？哪些是最直接影响最终尺寸的，确定其过程特殊特性进行控制。 如果说你只做最后尺寸，过程稳定受控，也就不怎么需要考虑前面的过程，如果cpk不够，则需要考虑之前工序的能力。
这个不用msa，只有仪器本身的偏差，和人以及被测主体关系不大，校准就行了
没有内容
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