afraidfuture(UID:508039) 新手上路
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Cpk 的定义是（USL-Xbar)/3sigma和(Xbar-LSL)/3sigma中最小的一个(sigma 是指制程随机样本的标准差)，这个值的定义可以看出它已经考虑了偏离中心的K值的因素，因为它也可以等同表达为Cpk=Cp*(1-k), 所以从你的RD说...
2012-09-03 20:29
我感觉比较重要的是那个虚无假设null hypothesis，和替代假设alternative hypothesis， 这是比较关键的步骤， 其余就是P<0.05, 否定null hypothesis， 肯定替代假设；P>0.05, 结果相反。
2012-09-03 22:24
针对其他几项，没有发言权，以下只针对3）回答 3）SPC的常规控制图的基本原则是中心极限定理，但是中心极限定理是来自与同一总体的不同样本，但是，大家认为，我们的过程能来自与同一总体吗？不同批次之间，或同一批次之内的差异有大有小，我就遇见过很多工序，大抵分为两...
2012-09-04 19:39
Thanks for your sharing.:D
2012-09-04 18:47
这个是两年前的老帖了， 其实这是个由DPMO转换为sigma capacity的问题， 首先搞明白两个概念， DPMO和sigma capability， DPMO: 百万次机会出现缺陷的次数，而sigma capacity是一个制程的长期制程能力， 合格率是...
2012-09-05 21:08
Cpk理论上可以为负值，Cpk=0，如果考虑制程偏移1.5， 那么100万中defect为933200，AKA 如果每一百万机会中的defect机会为933201或更多， Cpk就会小于0，变为负值，制程能力太差。:mad:
2012-09-03 22:11
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