herohaoyue(UID:238341) 新手上路

个人认为不要纠结于哪个是长期和短期，这个不是重点。重点是cpk只考虑随机误差，用Rbar估计西格玛，而Rbar主要取决于组内变差，ppk同时考虑Xbar的偏移产生的误差，西格玛用样本总体标准差作为估计。从根儿上了解变异源各分量，需要怎么控制和改进变异源才是SP...

2017-04-13 22:07

这些都是工具，根儿上讲，要分析变异源，然后加以控制。设备因子水平不是主要变异源的话，就不需要。

2017-04-13 17:57

极差图是监控波动的，大体原理应该和Xbar图一样，只是分布形式不一样。Xbar 属于t分布近似正态分布。Rbar 应该服从卡方分布，它的方差不是样本标准差。所以不一样哦。个人理解。

2017-04-13 17:42

不计算t值没法查表，不查表就不知道α分位点的值，就不知道拒绝域的临界点，就不知道啥时候拒绝原假设（H0: Xbar-Ar=0）。 有了t值您就全齐了。 数据一定要独立，正态的。

2017-04-11 18:05

再现性误差来自于对同一产品的n次测量，跟人可能没什么关系。重复性误差来源于你的测试设备的随机误差。 选一些覆盖PV的样件，每个样件多测几次（比如10个样件，每个测3次）。人的因素基本不用考虑了。用方差分析的方法计算方差分量，再算GRR就行了。工具是死的，GRR...

2017-04-11 18:00

没有绝对的，先做ppk时候，你得保证这时候的测量系统能够胜任这个时候的要求，但这个时候的测量系统不一定是最终的测量系统啊。即使是最终的系统，过程也不是一成不变的。所以都不是做一次就完事了。

2017-04-11 17:51

测量方法一样的，我觉得不用，都是外校的，精度肯定没问题啊。 这种测量系统主要变异源来自人，和测量方法。

2017-04-11 17:46

哥们，我估计你轮上能想到的都想了。 你自己实际测一下吧，看看是不是测量手法的事，每次要完全重复测量过程的。    

2017-04-11 17:40

谢谢分享！

2016-02-29 19:54

应该选D，这是一个单总体P检验的问题，样板量太小的话，置信区间被放大了。

2016-02-24 10:25

中英文对照看，可能效果更好，毕竟中文版被翻译者嚼过一遍了

2013-12-12 11:36

同意，并且如果你的样品应该覆盖产品的公差范围。这个取样如果刻意取得很集中，反而造成测量系统分辨率不够的假象。另外一种方法，如果你是随机取样的话，建议用稳定的过程偏差直接得到TV，而不是通过测量的10个样本的数据计算得到。

2011-04-29 22:28

[b]回复 forum.php?mod=redirect&goto=findpost&pid=3595996&ptid=271834[/b] dear，这里的精度不是指的量具的精度，而是测量系统的精度（包含人的因素和人与人之间的差的因...

2011-04-29 22:36

[b]回复 forum.php?mod=redirect&goto=findpost&pid=3595996&ptid=271834[/b] 量具如果是校准过的，没有问题

2011-04-29 22:38

测量系统的变差有很多，设备线性，偏倚，稳定性，稳定性，测量系统的重复性，再现性。 做MSA的目的是看整个测量系统的变差。 一般情况下，设备变差影响较小，所以通常情况下，gauge RR 只是对人所产生变差的分析（组内变差和组间变差）。 但是如果测量设备的...

2012-04-17 15:31

谢谢楼主啊，收藏之:lol:

2010-01-17 22:49

我是工厂的SQE。说实话这种审核对于供应商改进来说没有多大意义，除非真的有重大发现，更重要的意义在于相互了解。采购真的没必要去。

2008-12-06 15:58

还好我们SQE和采购事是一个部门的{W

2008-12-06 20:54

应该控制使用（包括加严检验），因为Sorting本来就不在流程控制范围之内，更何况还涉及Sorting的方法、环境、人员等因素呢。

2008-11-25 22:11

QC工具只是工具而已，只是前人的经验总结而已。真正去分析的是人的大脑，每个人都有自己的思路和方法。所以，无论黑猫白猫，能抓住老鼠就是好猫。:lol:

2008-11-29 22:04

到一个新的环境还是先要少“说”多“听”，多听听经理的意见和同事的意见。每个公司的习惯肯定是不一样的，只能我们去适应整个公司的环境。

2008-11-25 22:08

可以用公式反推啊，先算出X bar在反推出方差。再算出四倍sigma。加上X bar 为USL，减去Xbar为LSL。X bar设为规格中心。 不知道说得对不对啊？

2008-11-23 21:22

我开始说得不是很清楚。这个LED在测试站上会测试，误测的几率很小。所有测试OK的会送抽检，这个是抽检过程发现的不良。也就是他一开始是通过测试的，后来又在抽检被发现了。我觉得肯定是过载造成的发黑，但是不知道ESD先导致击穿短路在造成过载烧黑的说法是否正确。望不吝...

2008-11-25 21:51

To：Jason-Wang 我们用的的是可控恒流源，最大电流是30mA，这么大的电流会导致烧黑么？ To: 旗木卡卡西 我们用的是表面贴装器件

2008-11-28 22:12

感谢各位的回复，长知识了:lol:

2008-11-29 21:28

从控制图来看，过程好像不受控啊。PPK是多少啊？

2008-11-23 21:29