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就看你是什么电容啦 我们以前是做陶瓷电容（MLCC），假如是切割面的话应该是没有什么问题 你的缺点模式可以讲的再详细点，可以帮你判断判断
对啊，引脚共面性是老生常谈的问题。 这是半导体的一直没有解决的问题
哈哈，有时候国标比厂内的标准还松吧
电容的测试简单的测试仪只可以测试Cap,DF. IR有它自己的测试仪，HV的话就比较难测啦 来料检验的话Cap,DF,IR就可以了哇。
这个和MLCC里中的一种缺点模式--side crack是同样的问题。这种会引起IR偏低的问题。
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