lxm288147

lxm288147(UID:337141) 新手上路

主页访问 : 1331 次

更多 »回复

0

就看你是什么电容啦 我们以前是做陶瓷电容(MLCC),假如是切割面的话应该是没有什么问题 你的缺点模式可以讲的再详细点,可以帮你判断判断

0

对啊,引脚共面性是老生常谈的问题。 这是半导体的一直没有解决的问题

0

哈哈,有时候国标比厂内的标准还松吧

0

电容的测试简单的测试仪只可以测试Cap,DF. IR有它自己的测试仪,HV的话就比较难测啦 来料检验的话Cap,DF,IR就可以了哇。

0

这个和MLCC里中的一种缺点模式--side crack是同样的问题。这种会引起IR偏低的问题。

更多 »文章

没有内容

更多 »发问

没有内容

发问

回复

文章

最新动态

详细资料

个人成就:

威望: 0 积分: 509 赞同: 0 感谢: 0 Q豆 : 0

登录次数:
2 次
注册时间:
2009-10-23 23:33
更多 » 关注 0
更多 » 0 人关注
关注 0 话题
最新访客