w_jbxbd_s

w_jbxbd_s(UID:399197) 新手上路

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这种缺陷规律性不强而且差别很小,除了目检应该没啥好办法了。

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赞成14楼的说法。CPK表短期能力,SPC 则是长期监控以便及时发现异常,但是抽样频次及样本量可以降低。 好多电子产品的电子元器件来料波动极小,实际上我们在使用中并不要求特别精确 ,要是统计这类产品的CPK固然很高。不过能达到这么高,公差应该蛮大的了。

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三者计算方法完全一样。关键在于取样。 CMK:设备能力指数,排除原材料,人员等变差。通常都是在设备最佳状态连续采样50件,可以假设其他因素的变差较小。 CPK:Capacity, 表过程能力指数。所谓过程就包括设备变差,原材料,人员变差,一般是小组抽样,2...

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关键看采样,看目的。 客户通常看的都是CPK或PPK, 看整个过程的能力指数。 cmk是设备能力指数,一般验收设备或内部分析会用。客户关心的是能整个过程的能力,不单是设备。

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一样的。 我们关心的是设备对产品的制造能力,所以做CMK肯定要选择产品特性做。

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