如何确定Critical process中的参数属于的分布类型?(正态,均匀,泊松...)
我是6sigma的初学者，目前很想了解其中cpk，cp，ppk等等的相关知识，学习中遇到了一些障碍。请帮忙:
1.非正态分布可以做Ｃpk吗？不可以，该用什么控制此关键参数？
2.Cpk中的方差和Ppk中的方差有何不同？都是如何算的？
3.如何确定一个关键参数是否符合正态分布呢？
4.Cpk的参数选取?假如用连续32台做Cpk,但在产品试产中我们投的数量很少,也许刚好有32台左右,这样的结果是否符合Cpk的根本意图呢?
提前谢谢各位的帮忙和参与.
1.非正态分布可以做Ｃpk吗？不可以，该用什么控制此关键参数？
2.Cpk中的方差和Ppk中的方差有何不同？都是如何算的？
3.如何确定一个关键参数是否符合正态分布呢？
4.Cpk的参数选取?假如用连续32台做Cpk,但在产品试产中我们投的数量很少,也许刚好有32台左右,这样的结果是否符合Cpk的根本意图呢?
提前谢谢各位的帮忙和参与.
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9 个回复
senringe (威望:1) (江苏 苏州) 机械制造 经理
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找不到的话找我要好了，呵呵