讨论:仪器最小刻度vs产品公差vs校准公差?
大家好:
在我们公司主要是生产电线电缆，测量芯线外径是用厚薄规来测量的，其中
1、厚薄规的最小刻度为 0.01mm，最小刻度的一半为0.005mm
2、有一种产品芯线外径规格为 0.95+/-0.01mm
3、厚薄规的校正公差为 +/-0.02mm
大家来讨论下，这种情况下可能用厚薄规来测量这种规格的芯线外径吗？
如果不行，要怎样调整规格才可以？
在我们公司主要是生产电线电缆，测量芯线外径是用厚薄规来测量的，其中
1、厚薄规的最小刻度为 0.01mm，最小刻度的一半为0.005mm
2、有一种产品芯线外径规格为 0.95+/-0.01mm
3、厚薄规的校正公差为 +/-0.02mm
大家来讨论下，这种情况下可能用厚薄规来测量这种规格的芯线外径吗？
如果不行，要怎样调整规格才可以？
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66 个回复
qincheng1119 (威望:0) (广东 深圳) 电子制造 经理
赞同来自: 李峰鸿
此厚膜规最小刻度为0.01mm 如果其读书为刻度,按读数要求需要估读一位 实际分辨力为0.001mm(估计很多人都没有考虑过,在最小刻度的基础上要求估读一位)
满足要求
有问题的是仪器的公差 按计量要求的符合性要求 仪器公差必须小于产品公差的1/3到1/5(即要求小于±0.003mm), 此仪器不符合.
此种情况可以通过量值的溯源(检定、校准)进行修正,给出各点的修正值,或则直接调整.缩小仪器的公差, 但仪器公差绝对不可能小于仪器检定校准的扩展不确定度(以前规定仪器校准不确定度必须小于等于仪器公差的1/3到1/5), 我不太清楚厚膜规校准的扩展不确定度到底是多少.但由于受到仪器本身性能的影响,仪器公差只能有限的缩小,而且会增加一定成本.
因此,
- 仪器分辨力没有问题;
- 仪器公差范围受仪器不确定度和仪器性能影响, 可以缩小,但要求达到±0.003mm,比较困难;
- 1、2都符合后, 还需要做MSA来验证一下
此