求助　P管制图

P管制图
P图是用来测量在一批检验项目中不合格品（缺陷）项目的百分数。
1 收集数据
1-1 选择子组的容量、频率和数量
子组容量：子组容量足够大（最好能恒定），并包括几个不
合格品。
分组频率：根据实际情况，兼大容量和信息反馈快的要求。
子组数量：收集的时间足够长，使得可以找到所有可能影响
过程的变差源。一般为25组。
1-2 计算每个子组内的不合格品率（P）
P=np /n
n为每组检验的产品的数量；np为每组发现的不良品的数量。
选择控制图的坐标刻度
1-3 选择控制图的坐标刻度
一般不良品率为纵坐标，子组别（小时/天）作为横坐标,纵坐标的刻度应从0到初步研究数据读读数中最大的不合格率值的1.5到2倍。
1-4 将不合格品率描绘在控制图上
a 描点，连成线来发现异常图形和趋势。
b 在控制图的“备注”部分记录过程的变化和可能影响过程
的异常情况。
2 计算控制限

2-1计算过程平均不合格品率（P）
P=（n1p1+n2p2+…+nkpk）/ (n1+n2+…+nk)
式中： n1p1；nkpk 分别为每个子组内的不合格的数目
n1；nk为每个子组的检验总数
2-2 计算上下控制限（USL；LSL）


USLp = P + 3 P ( 1– P ) / n

LSLp = P – 3 P ( 1– P ) / n

P 为平均不良率；n 为恒定的样本容量

注： 1、从上述公式看出，凡是各组容量不一样，控制限随之
变化。
2、在实际运用中，当各组容量不超过其平均容量25%时， 可用平均样本容量 n 代替 n 来计算控制限USL；LSL。方法如下：

A、确定可能超出其平均值 ± 25%的样本容量范围。
B、分别找出样本容量超出该范围的所有子组和没有超出该范围
的子组。
C、按上式分别计算样本容量为 n 和 n 时的点的控制限.

UCL,LCL = P ± 3 P ( 1 – P ) / n = P ± 3 p ( 1– p) / n


我公司是从事机械加工的，不合格品以件数统计，每天统计的数量相差很大（肯定超过25%的范围），根据上面这种方法没办法做控制图，各位教教我怎样做?谢谢