我这样做的SPC有用吗?请指教!
我们公司是做汽车门锁的,在控制计划上要求对我们的产品过程做X-R图,收集的数据是产品的铆接高度,和铆接后的间隙,数据已经采集到了,但我现在有几个问题想不通.
1\因为铆接是我们生产过程中的关键工序,但铆接后的高度,除了生产设备和人员\环境一致以外,更多的是取决与铆钉,但铆钉是属于切削加工件,又是外协加工的,那我们采集到的数据最终做出来的X-R图是我们铆接工序的分析还是对铆钉加工的分析呢?
2\我对数据进行了计算,但算出来的CPK已经达到1.78了,而且有明显的数据是贴近公差下限的,为什么CPK还那么大呢?
3\对于另外的间隙数据的收集我更搞不清,间隙大小我们是用塞规来进行测量的，并没有相对准确的数据，比如大于０．０１间隙的，我就用０．０２的试，如果小于０．０２，那我该取什么数据呢？所以就算我最后采集到的数据也是不准确的．
那我这样做ＳＰＣ有用吗？
请大家帮我分析一下．该怎么做？有没有类似的现象的．
1\因为铆接是我们生产过程中的关键工序,但铆接后的高度,除了生产设备和人员\环境一致以外,更多的是取决与铆钉,但铆钉是属于切削加工件,又是外协加工的,那我们采集到的数据最终做出来的X-R图是我们铆接工序的分析还是对铆钉加工的分析呢?
2\我对数据进行了计算,但算出来的CPK已经达到1.78了,而且有明显的数据是贴近公差下限的,为什么CPK还那么大呢?
3\对于另外的间隙数据的收集我更搞不清,间隙大小我们是用塞规来进行测量的，并没有相对准确的数据，比如大于０．０１间隙的，我就用０．０２的试，如果小于０．０２，那我该取什么数据呢？所以就算我最后采集到的数据也是不准确的．
那我这样做ＳＰＣ有用吗？
请大家帮我分析一下．该怎么做？有没有类似的现象的．
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fordsta (威望:0)
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2，如果搂住的取样方法有效，测量系统可以接受，那么算出来的Cpk就是可信的。
3，用塞规进行测量，其实是属于用attribute gage来测量，那么如果要计算cpk,就不能用
计算variable data的cpk公式来计算。
4，计算cpk和ppk的公式是一样的，但是它们的取样方法和sigma的计算公式是不同的。