关于测试系统的首件检验
我们公司的主要产品是半导体贴片二极管，封装外形为SMD（SMA、SMB、SMC），最近我们公司准备开始做TMTT测试一贯机的首件检验，由于产品体积比较小，做首件检验的样品容易丢失，因此首件检验的样品量也是要考虑的问题。请教大家有没有比较合适的方法。
另外，想知道大家的首件检验如何判定，根据TMTT测试电特性的要求，我的想法是能不能结合MSA里面的偏倚分析来判断检验结果。
另外，想知道大家的首件检验如何判定，根据TMTT测试电特性的要求，我的想法是能不能结合MSA里面的偏倚分析来判断检验结果。
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Gavin333 (威望:0) - 半导体工程师
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