关于 CPK和PPK计算中σc、σp的几点疑问，请大家指点

大家好，我才刚开始接触SPC，问的问题可能有点幼稚，不要见笑！

一.σc是子组内变差，是从某过程得到的子组样本的平均极差估计一个稳定过程的标准差， 计算公式中是用的是子组极差的平均值。（大家都知道CPK计算中用的是σc）
我从论坛上看到这样的观点（对不起，忘了是谁了）：“控制线的上下线界限由工序的固有波动(变异)决定,同理CPK的计算中的标准差也是固有波动决定,2者计算中的标准差等同,算法一致”
我的疑问是：
1.我的理解是子组内变差应该是用子组内的数据来算出，为什么要用子组极差的平均值来计算？
2.固有波动决定子组内变差的逻辑过程是怎样的？（A决定B，B决定C，C决定D，所以A决定D）

二 σp是过程总变差，是用位于均值附近的一组单值的样本标准差估计一个过程的标准差，计算公式中有n（样本总个数）。
PPK计算中的标准差由工序总波动决定.固有波动只是总波动的一部分，
我的疑问是：
3.所谓“均值附近的一组单值”如何确定？
4.n的大小有没有限制？
5.这“均值附近的一组单值”的平均值是不是必须等于整个样本的平均值？

三 CPK反应的是短期情况，PPK对应长期。那么，
6.短期是不是指的生产子组数据对应零件所用的时间（大概不到一分钟）呢？
7.长期是不是指的生产样本数据对应零件所用的时间（几个小时）呢？

请大家指教！