OEE问题之 测试设备和来料问题
各位:
请问测试设备做OEE时的优率怎么计算啊?考虑到坏品不是该设备产生的,而是由前工序产生的,是测试出来的坏品做该设备的优率还是其他的。。对于优率的计算比较迷茫啊。请各位大挟多多指教啊。。。
另外做OEE时,如果来料的优率很低,举个例子:一块电子元件板有多个相同的电子元件,只有少量的是ok的,多数是不ok的。 此时我们来output 和input 该如何计算啊。。。还有此种情况的UPH怎么计算啊。。谢谢大家啊!!!。请帮忙解答一下!!
请问测试设备做OEE时的优率怎么计算啊?考虑到坏品不是该设备产生的,而是由前工序产生的,是测试出来的坏品做该设备的优率还是其他的。。对于优率的计算比较迷茫啊。请各位大挟多多指教啊。。。
另外做OEE时,如果来料的优率很低,举个例子:一块电子元件板有多个相同的电子元件,只有少量的是ok的,多数是不ok的。 此时我们来output 和input 该如何计算啊。。。还有此种情况的UPH怎么计算啊。。谢谢大家啊!!!。请帮忙解答一下!!
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