ICT基本测试原理

电阻测试原理
电容/电感测试原理
二极体及IC保护二极体测试原理
齐纳二极体测试原理
电晶体(三极管)测试原理
光藕合元件测试原理
电容极性测试原理

1.1 电阻测试原理1.1.1 固定电流源(Constant Current)模式(MODE 0)
对于不同的电阻值,ICT本身会自动限制一个适当的固定电流源做为测试的讯号源使用,如此才不会因使用都的选择不当,因而产生过高的电压而烧坏被测试元件,故其测试方式为:提供一个适当的固定电流源I,流经被测电阻R,再于被测电阻R两端,测量出Vr,由于Vr及I已知,利用Vr=IR公式,即可得知被测电阻R值,如附图一.
RANGE CURRENT
1欧姆 - - 299.99欧姆 5mA
300欧姆 - - 2.99K欧姆 500uA
3K欧姆 - - 29.99K欧姆 50uA
30K欧姆 - - 299.99K欧姆 5uA
300K欧姆 - - 2.99M欧姆 0.5uA
3M欧姆 - - 40M欧姆 0.1uA

1.1 电阻测试原理1.1.2 低固定电流源(Low Constant Current)模式(MODE 1)
该测试方法和上述固定电流源模式一样,只是在被测电阻于电路上并联(Parallel)着二极体(Diode)或是IC保护二极体(IC Clamping Diode)时,对于该电阻两端测量电压值若超过0.5V至0.7V左右时,因为二极体导电的关系,该电阻两端电压将被维持在0.5V至0.7V左右,固无法量测出真正的Vr值,为了解决此问题,只要将原先的电流源降低一级即可.如附图二.
RANGE CURRENT
1欧姆 - - 299.99欧姆 500uA
300欧姆 - - 2.99K欧姆 50uA
3K欧姆 - - 29.99K欧姆 5uA
30K欧姆 - - 299.99K欧姆 0.5uA
300K欧姆 - - 2.99M欧姆 0.1uA

1.1 电阻测试原理1.1.3 交流相位(AC Phase)测试模式(MODE 3 、 MODE 4 、 MODE 5)
由于电路设计关系,被测试电阻,将会并联着电感等元件,对于此电阻值测量,若使用固定电流源方式测试,电阻值将会偏低而无法测量出真正的电阻值,故使用AC电压源,利用相位角度的领先,及落后方式而得知被测电阻值.故其测试方式为:提供一个适当频率的AC电压源V,同时在被测电阻两端测量出Iz,由于V=IzZrl,因为V及Iz已知,故可得知Zrl,又因为R=Zrlcosθ,而Zrl及cosθ已知,故即可得知被测电阻R值.如附图三.
SIGNAL RANGE(L) RANGE(R)
1KHz 600uH - - 60H 5欧姆 - - 300欧姆
10KHz 60uH - - 600mH 5欧姆 - - 40K欧姆
100KHz 6uH - - 6mH 5欧姆 - - 4K欧姆