请教一个测量工具的使用问题
客户把图纸上一个1200.0+/-10mm的尺寸做为特殊特性要求,该尺寸是多个部件组装后形成的,按规定该尺寸CPK要大于1.67,产线用SPC控制。由于尺寸太大,我们手上只有精度为1mm的测量工具。以下是我的问题,请高手指点:
1,用MSA验证该测量工具的结果:
%GR&R (Tol) 小于10%
%GR&R (Part to Part) 大于40%
NDC 小于 2
根据MSA手册要求该测量工具显然不能用来分析过程,既不能做SPC测量。请问该测量工具实际是否可用?
2,用该测量工具测量的数据直接应用于CPK公式,CPK大于1.67。同时数组也明显不成正态分布,这违反了算CPK值的前提假设。按理论实际CPK值应该是更大,但各位认为这样的数据是否可靠?CPK应怎么去算?
3,在PPAP过后我们确定了该尺寸的控制上下限,可实际生产中我们发现,该尺寸今天是1200+/-1,明天却变成1201+/-1,从长期的控制图上看是明显的处于非受控状态,而短期却能受控。请问该非受控是否要管控?控制上下限又应如何设置?
1,用MSA验证该测量工具的结果:
%GR&R (Tol) 小于10%
%GR&R (Part to Part) 大于40%
NDC 小于 2
根据MSA手册要求该测量工具显然不能用来分析过程,既不能做SPC测量。请问该测量工具实际是否可用?
2,用该测量工具测量的数据直接应用于CPK公式,CPK大于1.67。同时数组也明显不成正态分布,这违反了算CPK值的前提假设。按理论实际CPK值应该是更大,但各位认为这样的数据是否可靠?CPK应怎么去算?
3,在PPAP过后我们确定了该尺寸的控制上下限,可实际生产中我们发现,该尺寸今天是1200+/-1,明天却变成1201+/-1,从长期的控制图上看是明显的处于非受控状态,而短期却能受控。请问该非受控是否要管控?控制上下限又应如何设置?
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对于这个问题我看了好几遍MSA手册。量具分辨力,手册中提到:为产品公差的1/10或6SIGMA的1/10,建议用后者。从公差1/10的角度来说检具是可以的。无意于在这谈MSA的原理,只谈怎样从MSA报告的数据判断测量系统合格与否。测量系统有两个作用:1,判定产品好坏,2,获取分析用数据。MSA里有三个很重要的数据刚好可以帮我们做出决定: %GR&R (Tol) , %GR&R (TV) ,ndc(分级数)
%GR&R (Tol) <10% 测量系统有足够的能力判断产品好坏
%GR&R (TV) <10% 测量系统有足够能力来分辨产品间的差异,既可用来分析制程的变异。
ndc>5 测量系统有足够能力来分辨产品间的差异,既可用来分析制程的变异。
我所列的问题里的那个尺寸是要做SPC的,但从MSA报告体现的结果看,它没有足够的能力分辨出产品间的变异,也就是说制程真有大的变异,这个检具不一定发现得了。所以才会问检具是否可用?不可用应怎样处理?