制程能力分析名詞解釋及計算公式

符號 符號說明 計算公式 備 注
χ 各個測定值、各個數據 χ1、χ2、χ3……
_χ
平均值 χ1+χ2+χ3……………+χk
k
=χ
總平均值 _χK1+_χK2+_χK3…………+_χKn
n
R 全距 R=最大值-最小值
一R
全距之平均值 R1+R2+R3……………+Rk
K
μ(UL) 規格中心值
T 規格公差 T= SU - SL
SU 規格上限
SL 規格下限
CL_χ
中心值(平均值) CL_χ==χ
_χ-R管制圖

UCL_χ
管制上限(平均值) UCL_χ==χ+A2R

LCL_χ
管制下限(平均值) LCL_χ==χ-A2R

CLR 中心值(全距) CLR =_R

UCLR 管制上限(全距) UCLR =D4_R

LCLR 管制下限(全距) LCLR = D3_R

A2 求管制圖管制界限之系數 0.577 當n=5時
D4 求R管制圖的管制界限的系數 2.115 當n=5時
D3 求R管制圖之管制界限的系數 0 當n=5時
d2 求標準差中的系數 2.326 當n=5時
δ
標準差(制程分配之群體標准差估計值) δ= _R
d2 -X-R管制圖時用

Ca
准確度(比較制程分配中心與規格平均值一致之情形) _χ-μ
T/2
Cp
精密度(比較制程分散寬度與公差范圍) Cp= T
6δ
Cpk 制程能力指數(綜合Ca和Cp二值之指數) Cpk=(1-∣Ca∣)Cp
SPC 統計制程管制.即統計方法在制程品質管制中的應用.
CLP
平均不良率 CLP=P P管制圖
UCLP
不良率管制上限
UCLP=P+3 P (1- P)
n
LCLP
不良率管制下限
LCLP=P-3 P (1- P)
n
Σ 合計