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检验批量相差很大的P CHART 控制上下限定义?

对产品不良率用P CHART 控制, 如检验批量相差很大(有的相差甚至10倍),应该每个点都有自己的控制上下限, P CHART 的上下限控制限定义如下:

CL=P bar=∑di/∑ni
UCLi=P bar+3[i] ((P bar/ni))1/2
LCLi=P bar-3[i] ((P bar/ni))1/2

按照这样的公式计算出来的控制上下限是曲线状的,感觉怪怪的好象不对,还请高手指点!

数据:
DATE Produce Defects Defect yield
7/9 14640 10 0.07%
7/10 6663 201 3.02%
7/11 1154 2 0.17%
7/12 17778 18 0.10%
7/13 24036 85 0.35%
7/16 19754 106 0.54%
7/17 16822 49 0.29%
7/18 6226 54 0.87%
7/19 11054 14 0.13%
7/20 27671 35 0.13%
7/21 10084 4 0.04%
7/23 24142 129 0.53%
7/24 27738 48 0.17%
7/25 5464 98 1.79%
7/27 30385 225 0.74%
7/30 24251 63 0.26%
7/31 7454 14 0.19%
8/1 19525 133 0.68%
8/2 26263 103 0.39%
8/3 39875 116 0.29%
8/6 18306 159 0.87%
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carolzhang (威望:0) (江苏 苏州)

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谢谢楼上的指点!

结果跟用EXCLE 算出来的一样,但图形不同,控制上下限不是凹凸状,是条曲线.

样本不同,根据Minitab 算出来的控制上下限不是直线, 但Minitab图上所显示的
UCL=0.00586
P=0.0439
LCL=0.00292

这组数据指的是什么? 我不是很了谢,望赐教!

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