［多层陶瓷电容］容值偏低
测试时发现电容容值偏低，有人说可以通过加热的方法处理一下，再进行测试。我们做了试验，150℃加热30min、回温后测试电容容值在精度范围内。想问问大家是否遇到了这个情况？
我的这颗电容是Y5V材质的。
这种加热处理的方法，有没有什么根据？
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火墙弄 (威望:0) (福建 福州) 电子制造 工程师 - 技术分析
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- 电容存在aging现象造成。
2．Aging 现象是指 EIA ClassⅡ类（如 X7R,X5R,Y5V,Z5U 材质）电容容值随时间降低的现象，它在所有以铁电系材料做介电质的材料均有发生，是一种自然，不可避免的现象。发
生的原因是内部晶体结构随温度和时间产生变化导致了容值下降的現象，属可逆现象。
- 对于存在 aging 现象的电容，IQC 在检验前需进行 de-aging, de-aging 条件(可参考
EIA-198-2-E标准)为：将样品在150℃的温度下放置 1小时，然后再在室温下放置48小时后再进行测试。
4．电容aging现象造成测试容值偏低不会对电容的应用和功能造成影响。