量测系统的分辨力越大越好吗？

我最近在量测一些零件的时候采用了不同的量测工具：数显卡尺（分辨力0.01）和三坐标测量仪（分辨力0.0001），但是在有些大尺寸上边，却感觉三坐标用的很奇怪，比如说用卡尺测在规格内，而用三坐标却在轨格外，研究了一下，因为零件做得很糙，要求也不高，所以有些地方看起来是直的，在放大100倍之后却是弯的，甚至是波浪形的，这给三坐标取点造成了很大的困难，甚至连续测量会有很大的误差，但是用卡尺却不会有这么大的误差，难道在这里也需要用模糊理论。
所以忍不住要向各位请教一下如题的问题：量测系统的分辨力越大越好吗？
希望有同样经历的同志指教一二，不胜感激！谢谢！