请教:Laser chip, diode, module的失效标准如何定

我公司是做laser chip,laser diode,laser module的. 现想通过Accelerated Aging测试,计算MTTF. 在如何确定产品失效的标准上,QA的和研发的人出现了不同意见. 研发的人设定产品的end of life threshod电流的测试前后的变化超过50%才算失效. 但QA的人说,大部分公司都是20%就算失效了.
目前,我们这个行业用的都是Telcordia GR468. 但根据Telcordia GR468,失效的标准可以企业自己定. 想请教各位高手.有没有什么其他标准可以具体规定了end of life threshod? 或高手们你们自己是如何做的?
先谢谢!