形位公差是否可以取消做SPC?
我有一个客户, 在图纸上标注形位公差为SC特性, 即是需进行过程能力检测的,但是形位公差是单边公差, 可以取消做SPC吗?
问过客户, 他说形位公差可以在Minitab 中将下差改为无穷小, 进而得出控制图, 这样做对吗?
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20 个回复
maxwell1 (威望:0) (江苏 苏州) 其它行业 主管
赞同来自: weiwei826685 、IVAN_389 、加纳巧克力
当时, 我前任的做法是,将这类尺寸在CMM上测量, 测得的值按3模/4H频次进行打点做控制图.
至于上下限, 是自己随便算的, 当时的TUV也没有看出来.
只是今年我重新审核时发现,很多形位公差, 如位置度,轮廓度,其实是不适合做控制图的, 当然如CPK也是一样.
例如:
有个位置度0.4
实际我测得是一个由X, Y 坐标经过计算得出来的值, 如0.011, 假如我的尺寸分别会是0.001 0.002 0.001 0.004 0.001~~~~~这样下去, 我的Cpk 其实会是一个非常差的值, 这个时候, 如果Cpk<1.33, 那是不是要改善?
这会是一个很可笑的改善要求.不是吗?
请各位指点