统计技术应用

5.2 SPC规划
5.2.1 一般情况下,旧产品选择一个自2003年2月1日起首个工序进行过程能力研究;
5.2.2 顾客有要求本公司提供过程能力符合性证明需求时。
5.2.3 跨功能小组在过程设计阶段即在该过程目前能满足顾客要求且呈预测的长期不稳定过程时,要求性能指数(PPK)必须≥1.67
5.2.4 在量产阶段即过程稳定时,要求能力指数(CPK)必须≥1.33
5.2.5 统计可分计量型和计数型,在计量时一般采用 X -R图。表现计数则用P图来表现
X -R图（均值和极差图）用于量产后的产品加工过程中重要的计量型技术参数之控制分析。
P图（不良率控制图）用于量产后的计数型特性试验，外观等检查。
5.3 特性的确定
5.3.1 在过程设计阶段和量产阶段应该确定产品特性和过程特性。
5.3.2 产品特性为在图样或其它资料文件中描述的零部件或总成的规格等的描述,品管部应从所有来源中识别组成重要产品特性的产品特殊特性。
5.3.3 过程特性是与被识别产品特性具有因果关系的输入变量.过程特性仅能在其发生时才能测量出.品管部应识别和控制其过程特性的变差以最大限度减少产品变差。
5.4 规格与公差
根据顾客所提供的技术资料和文件上所规定的规格和公差来执行。
5.5 收集数据
5.5.1 在过程生产中由品管部即时进行X -R图的数据收集。
a) 子组大小n:3-5件
b) 子组频率:1.5H、2H（H表示小时）
c) 子组数：20-25
文件标题 SPC程序 文件编号 JZ-QP-029 版次 A0
制订部门 技术部 生效日期 2002/12/18 页码 2/2

5.5.2 品管部负责对P图的数据进行收集
a) 子组容量n:选择子组大小，一般可使用n=1/p-5/p(p为该产品的不良率)；
b) 子组频率：根据产品的周期确定；
c) 子组的数量：一般情况下，应包括20-25，以便很好地检验过程的稳定性。
5.6 作图
5.6.1 品管部根据收集的数据建立X –R控制图,及记录原始数据
a) X –R图通常是将X图画在R图上方,下面接一个数据栏,X 和R的值为纵坐标,按时间先后的子组为横坐标,数据值以及极差均值点纵向对齐。
b) 数据栏应包括每个读数的记录,同时还应包括记录读数的均值（X）、极差（R）以及日期/时间或其他识别子组的代码的空间。
c) 将均值和极差分别画在图上，并将点用直线连接起来，从而得到可见图形和趋势。
5.6.2 品管部负责P图的制作,制作方法如下:
a) 将不合格品率作为纵坐标,子组识别C小时、天等）作为横坐标。纵坐标的刻度应从0到初步研究数据读数中最大的不合格率值的1.5到2倍的值，描绘每个子组的P组，将这些点连成线。
b) 记录过程中的变化可能影响过程的异常情况。
5.7 X-R图和P图的分析、制定和处理及记录
5.7.1 分析判定的方法
a) 任何超出控制限的点；
b) 连续7个点全在中心线之上或之下；
c) 7点连线上升或下降；
d) 其它明显非随机的图形。
5.7.2 异常情况的处理和记录
a) 如判定X-R图和P图中出现5.7.1其中之一的情况时,应由品管部门及相关责任部门一起调查原因,并采取相关措施以便制程达到稳定状态,并记录所采取的措施。
b) 当制程的普通原因有变化时,可重新计算控制限,以进一步提高制程能力。
c) 异常处理之状况须记录于X-R图和P图上,以作为日后追查及图表判读用。