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关于BGA IC 锡裂或冷虚焊的问题

我们公司是做笔记本内存的,日前,一些客户返回的不良品存在锡裂或冷虚焊的问题。
由于我们公司没有专业的设备测试,所以无法判断客户返回的不良品是否有锡裂或冷虚焊的现象,一般都是将不良品进行重烘或重过reflow,如果不良品OK后,则判断IC存在锡裂或冷虚焊的现象。但是由于重烘或重过reflow,不良现象会消失,故无法确认到具体不良原因。
针对这个问题,应该如何解决呢?请给位大侠们给点意见!
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robinsong (威望:0) (江苏 苏州) 电子制造 工程师

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我们公司不测ICT,只是用测试程式或设备可以测出内存条上的某颗颗粒不良,但是是颗粒本体不良,还是颗粒焊接性问题,那只能通过重烘后才能判断。

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