电子元器件的气密检测问题

我们公司生产的电子元器件是晶振(49S型), 通常用来检测气密的方法是将产品放在盛有无水乙醇的密封罐中加0.5MPa的压力, 20分钟后取出用阻抗计测量产品的电阻率是否异常(正常值应>500MΩ)
以上是业内的通常做法. 但此次去稽核一家OEM厂商时, 却发现对方为节省成本, 将无水乙醇换成了去离子水, 对方声称经实验证明效果一样.
后续我将会对该厂商的产品加大气密检测的抽样数量, 但想请问是否有人知道在理论上气密测试用无水乙醇与用去离子水的差别何在?
谢谢!