形位公差与过程能力
本帖最后由 aiikii 于 2008-12-31 09:05 编辑
最近要分析某产品的同心度，垂直度。
只用三坐标采集了35件产品的数据。
此三坐标是手动的，我怀疑做MSA都未必满足要求（同心度要求为0.013mm）。并且以后也基本不可能总用三坐标采集这些数据。
但我不想把测量设备方面的问题复杂化，暂时只关注这35件产品的数据能否计算同心度和垂直度的cp、cpk？
我搜索了一些帖子，讨论的比较激烈，但最终也没看到一致的或权威的结论。
形位公差是否属于正态分布？
计算Cpk是否要求必须是正态分布？
形位公差的数据是否要/是否能转化后计算？
用威布尔分布还是对数正态分布还是其它方法转化？
如果cp、cpk不适用于形位公差，那么适合的方法都有哪些？
……
如果建议我继续搜索或学习哪方面资料的就免了。我正在查，两手准备。
我希望各位朋友能参与讨论或指教。
谢谢~
最近要分析某产品的同心度，垂直度。
只用三坐标采集了35件产品的数据。
此三坐标是手动的，我怀疑做MSA都未必满足要求（同心度要求为0.013mm）。并且以后也基本不可能总用三坐标采集这些数据。
但我不想把测量设备方面的问题复杂化，暂时只关注这35件产品的数据能否计算同心度和垂直度的cp、cpk？
我搜索了一些帖子，讨论的比较激烈，但最终也没看到一致的或权威的结论。
形位公差是否属于正态分布？
计算Cpk是否要求必须是正态分布？
形位公差的数据是否要/是否能转化后计算？
用威布尔分布还是对数正态分布还是其它方法转化？
如果cp、cpk不适用于形位公差，那么适合的方法都有哪些？
……
如果建议我继续搜索或学习哪方面资料的就免了。我正在查，两手准备。
我希望各位朋友能参与讨论或指教。
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14 个回复
wutao5415 (威望:24) (上海 上海) 机械制造 -
赞同来自: zhyhenry152
形位公差不是属于正态分布
计算Cpk是否要求必须是正态分布？没有见过这个要求，但最好是正态分布，因为在正态分布的情况下计算Cpk是比较科学的。
形位公差的数据是否要/是否能转化后计算？“转化”是指的什么，是指考虑补偿么（MMC，LMC）？如果是，那么不需要转化，用实际测量的值去做分析。但我曾经见到过垂直度要求是0，但没有要求做Cpk.
用威布尔分布还是对数正态分布还是其它方法转化？ 通常讲，形位公差服从威布尔分布，有老外根据“置信区间”，从概率的角度来评价类似于Cp, Cpk的目的。但不是大众流行的做法。
如果cp、cpk不适用于形位公差，那么适合的方法都有哪些？目前没有见到更好的办法，只是用公式去套，虽然得出的结果不是很令人信服。
如果你们的客户要求你们去做形位公差的过程能力分析，最好是搞清楚他们是根据什么去做的。公式是什么样的。
另外，这个东西是从西方，尤其是美国泊来的，最好是访问他们的质量网站，他们内部也有很多这方面的讨论。
http://www.qualityadvisor.com/ ... u.php