请教过程能力分析
数据如下:
X1 X2 X3 X4 X5
1 11.115 11.117 11.113 11.115 11.117
2 11.111 11.111 11.109 11.111 11.111
3 11.107 11.112 11.113 11.111 11.112
4 11.111 11.109 11.111 11.111 11.107
5 11.111 11.109 11.109 11.109 11.111
6 11.107 11.111 11.109 11.109 11.107
7 11.111 11.109 11.11 11.109 11.11
8 11.107 11.105 11.107 11.105 11.107
9 11.107 11.109 11.109 11.107 11.108
10 11.105 11.107 11.107 11.107 11.105
11 11.107 11.106 11.105 11.107 11.106
12 11.107 11.105 11.107 11.106 11.107
13 11.105 11.103 11.105 11.107 11.106
14 11.109 11.107 11.107 11.106 11.107
15 11.111 11.113 11.113 11.111 11.111
二、控制图如下:
三、过程统计量:
Cp 6.896860465
CPU 11.41002171
CPL 2.383699225
Cpk 2.383699225
Pp 2.900786309
PPU 4.7990002
PPL 1.002572419
Ppk 1.002572419
K 0.6544
Zusl 34.23006512
Zlsl 7.151097674
P Zusl 0
P Zlsl 4.30433E-13
P合计 4.30433E-13
Cpm 1.655836608
四、过程能力分析:
1.从控制图来分析:过程处于技术稳定(符合公差要求),而不处于统计稳态,过程存在异常;
2.因过程组内波动较小,sigma估计值较小,XBar控制图上下控制线很窄;
3.因过程不稳定,计算CPK误差较大,这里要看PPK=1值,过程能力尚可;
4.K=0.6544,中心偏移量较大,需要采取措施调整;
以上是我的分析,请教高手指导,多谢!
X1 X2 X3 X4 X5
1 11.115 11.117 11.113 11.115 11.117
2 11.111 11.111 11.109 11.111 11.111
3 11.107 11.112 11.113 11.111 11.112
4 11.111 11.109 11.111 11.111 11.107
5 11.111 11.109 11.109 11.109 11.111
6 11.107 11.111 11.109 11.109 11.107
7 11.111 11.109 11.11 11.109 11.11
8 11.107 11.105 11.107 11.105 11.107
9 11.107 11.109 11.109 11.107 11.108
10 11.105 11.107 11.107 11.107 11.105
11 11.107 11.106 11.105 11.107 11.106
12 11.107 11.105 11.107 11.106 11.107
13 11.105 11.103 11.105 11.107 11.106
14 11.109 11.107 11.107 11.106 11.107
15 11.111 11.113 11.113 11.111 11.111
二、控制图如下:
三、过程统计量:
Cp 6.896860465
CPU 11.41002171
CPL 2.383699225
Cpk 2.383699225
Pp 2.900786309
PPU 4.7990002
PPL 1.002572419
Ppk 1.002572419
K 0.6544
Zusl 34.23006512
Zlsl 7.151097674
P Zusl 0
P Zlsl 4.30433E-13
P合计 4.30433E-13
Cpm 1.655836608
四、过程能力分析:
1.从控制图来分析:过程处于技术稳定(符合公差要求),而不处于统计稳态,过程存在异常;
2.因过程组内波动较小,sigma估计值较小,XBar控制图上下控制线很窄;
3.因过程不稳定,计算CPK误差较大,这里要看PPK=1值,过程能力尚可;
4.K=0.6544,中心偏移量较大,需要采取措施调整;
以上是我的分析,请教高手指导,多谢!
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K值偏大、根据实际精度要求建议调整测量的读数方法。
从R图趋势分析:数据采集偏差大,需要验证R&R.
CP:CPK的比值个人认为有些大,根据实际测量部品的精确性。