谁计量过镀层测厚仪的 用标准片调校的 现在又问题求助

我们用的是Fischer的型号为XULM-XYM的镀层测厚仪，以前测得数据正常，但有一次用标准片调校后，数值都偏低了，我们是用来测锡的含量，基本都在99.8%左右，但现在只有99.2%左右，这个就不太纯了，不知道如何调校能把数字弄高一点，哪位同行知道的告诉我一下好哇，感激不尽啊！！