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X荧光(XRF)知识必备

1、EDX设备工作原理是什么?
答:原理:通过高压产生电子流打入到X光管中靶材产生初级X光,初级X光经过过滤和聚集射入到被测样品产生次级X射线,也就是我们通常所说的X荧光,X荧光被探测器探测到后经放大,数模转换输入到计算机。计算机计算出我们需要的结果。

2、什么是我们作为元素分析的基础?
答:特征X射线,其由被测量物质的基本组成元素决定,元素不同,其特征X射线能量不同

3.为什么XRF RoHS测金属的结果与有些权威机构有差异?
答:(1)光谱分析为表面物理分析,比如化学溶样分析方法,两种测量方法之间的差别。
(2)金属标样自身的误差。
(3)金属样品表面有镀层

4、为什么不能测量出六价铬、PBB和PBDE的含量?
答:因为X荧光原理决定的,X荧光光谱仪只能测量物质中的元素的总含量,而对其的化合状态无法判别,所以,六价铬、PBB和PBDE的含量无法检测。

5、为什么不能测量出六价铬、PBB和PBDE的含量?
答:因为X荧光原理决定的,X荧光光谱仪只能测量物质中的元素的总含量,而对其的化合状态无法判别,所以,六价铬、PBB和PBDE的含量无法检测。
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wangliang55 (威望:0) (湖北 咸宁) 电子制造 经理 - 自信,健康,微笑

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请教一下PbLa是测试的什么项目。谢谢!

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发起人

skyray998
skyray998

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