[求助]cp的问题
顺便请教一Cp问题:
初赏试SPC的我遇到了实际问题,依靠<质量工程师手册>尚不能解决;依我目前的能力,倘若贴在品质管理区,针对各种答案,亦不能识别正误,特请教.
问题:Cp的计算
过程背景:目前过程未达稳态,处于工艺参数未知阶段,控制图为分析用控制图.
控制点:波峰焊工位
数据收集对象:波峰焊缺陷数
控制图的选择:U图
为了观察日后各阶段Cp的改善情况,考虑进行Cp的计算
根据质量指标:target(80 PPM)、alarm(180 PPM)视为规格上下限
假设过程无偏移:
p=2Φ(-3Cp)
由不合格品率p=0.39得:
Cp=0.39/-6Φ
=-0.065Φ
问题:泊松分布函数值的起点是大于1的啊,何寻—0.065Φ?
请问错在哪里?
根据U图,感觉过程是有偏移的。
偏移量ε=∣M—μ∣
M=(180-80)/2
=50
μ= 2.1
故 ε=∣50-2.1∣
=47.9
K=2ε/T
=2*47.9/(180-80)
=(0.96)
p=Φ+Φ
=-Φ5.88 Cp-Φ0.12Cp
=-Φ6Cp
因 P=0.39
故 0.39=-Φ6Cp
Cp=0.39/(-6Φ)
-6Φ问题同上。
对于公式Cp=T/6σ:
有σ=Rbar/d2
σ=Sbar/C4
而σ是用于计量值的
请问:针对我的问题如何求Cp?
初赏试SPC的我遇到了实际问题,依靠<质量工程师手册>尚不能解决;依我目前的能力,倘若贴在品质管理区,针对各种答案,亦不能识别正误,特请教.
问题:Cp的计算
过程背景:目前过程未达稳态,处于工艺参数未知阶段,控制图为分析用控制图.
控制点:波峰焊工位
数据收集对象:波峰焊缺陷数
控制图的选择:U图
为了观察日后各阶段Cp的改善情况,考虑进行Cp的计算
根据质量指标:target(80 PPM)、alarm(180 PPM)视为规格上下限
假设过程无偏移:
p=2Φ(-3Cp)
由不合格品率p=0.39得:
Cp=0.39/-6Φ
=-0.065Φ
问题:泊松分布函数值的起点是大于1的啊,何寻—0.065Φ?
请问错在哪里?
根据U图,感觉过程是有偏移的。
偏移量ε=∣M—μ∣
M=(180-80)/2
=50
μ= 2.1
故 ε=∣50-2.1∣
=47.9
K=2ε/T
=2*47.9/(180-80)
=(0.96)
p=Φ+Φ
=-Φ5.88 Cp-Φ0.12Cp
=-Φ6Cp
因 P=0.39
故 0.39=-Φ6Cp
Cp=0.39/(-6Φ)
-6Φ问题同上。
对于公式Cp=T/6σ:
有σ=Rbar/d2
σ=Sbar/C4
而σ是用于计量值的
请问:针对我的问题如何求Cp?
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