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关于MSA取样须覆盖“50~120%公差”的想法

读帖读到一则Nokia牛人关于MSA该如何抽取样品的回复,感觉很搞笑!似乎Nokia就是对的,不尽然。

他的回复:"随机取样"已经包括了"覆蓋整个过程变差的50%-120%",在很多的资料中都说的是随机取样,但是E有时也会根据客户要求取样,像我们公司现在在做NOKIA的产品,模板是他们自己提供的,他要求的取样就是要覆蓋整个过程 ...
雪儿 发表于 2008-7-9 09:23

呵呵,Nokia的做法就一定对啊,我看未必!
我认为MSA可以分为两种,一种是QC用,进行过程控制的,一种是QA用,只是判定合格与否的。
对于QC,QC的职责是发现实际生产的异常,我们的MSA必须针对实际的生产过程,因此取样应该随机从生产过程提取(不能体现一定的规律,趋势),这样才能反映出测量系统相对于实际过程的符合性。
而对于QA,QA只要区分合格与不合格,面对的是整个公差,我认为选取公差的50~120%是合适的,这样才能体现QA的职责。
举个简单的例子,如果某一尺寸,客户要求±0.2mm,我们实际制程能力高,SPC控制线(±3sigma)能达到±0.05mm。这个时候,如果用选用卡尺测量,对于制程控制中G R&R明显分辨率不足,但是如果作为QA出货检,G R&R是符合的。如果按照Nokia的做法,按50~120%公差取样,G R&R是很好的,但是可能你的SPC图上就只有三个点,你还做什么控制图?
所以,MSA的取样是要和使用的场合一致的。什么50~120%公差取样实际是断章取义,自欺欺人,应付客户罢了!
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machanghao (威望:1) (北京 朝阳区) 电子制造 员工

赞同来自: 灼热的雨

我同意这种lz的说法,做msa首先还是要确定目的,我想首先考虑的一条是我们做msa系统的应用是什么,如果只是作为产品判断量否的应用,那去制品的公差范围的120%数据是没有什么问题的,但是作为过程统计控制,那就应该选择制程的正常产品,正常产品体现的是过程的变差,如果此时选择用产品公差,而变差比公差 小很多,那量具的msa在满足公差ndc5的情况下,可能对于变差的分辨力是很小的,测量的结果没办法用到统计过程控制,毕竟控制图才6个范围。

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