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SPC

测量分析与SPC控制

我们测试的单位都是纳米或埃级别的。按照对测量系统的要求,精度必须控制在公差或制造过程变差(6sigma)两者中较小者的十分之一。
我们的现状是,只可以达到公差的十分之一的要求。
那么算控制线时精度达不到该怎样做? 报警时尤其集中在9点在中心线一侧的类型。
哪位朋友可以帮忙回答?谢谢。
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cloudscape (威望:0) (江苏 南京)

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1,对抽样的产品测十次以上,取平均值(多一位有效数字)为测量值;
2,对在1SIGMA区域的点要测试十五此以上,取平均值,不要轻易断言过程失控

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