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请教各位大侠一个问题：
一个间隙规格值是10-40μm，所用的测量工具是一种专用的塞规，塞规的规格有5μm、10μm、15μm......40μm，现行的测量方法是：当小一号的塞规可以通过，而大一号的塞规不能通过时，就取中间值。例如：当15μm可以通过，20μm不能通过时，我们就认为它的规格是17。5μm。
针对这个特性做X-R管理，结果发现3σ为2.4μm，而上述的测量方法的量具误差已经为2.5μm，在这种情况下，用X-R图管理还有意义吗？如果不用X-R图管理，那用哪种SPC进行管理比较好呢？