SPC，采集的数据非正态分布，如何确定控制限
本帖最后由 machanghao 于 2010-2-1 22:53 编辑
利用X-BAR图对制程进行控制，对所采集数据进行正态验证，结果显示非正态分布，请教大家，此时，控制限如何计算？
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22 个回复
machanghao (威望:1) (北京 朝阳区) 电子制造 员工
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SPC应该只是一种利用控制限的方式对制程异常进行监控的数学方法，非正态分布为什么不可以应用呢，是不能建立控制限吗？