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統計品質管制(Statistical Quality Control, SQC)

[]定義和名詞彙編。 [/]

群體, Population N
吾人用以判定一群類似的項目數量。

樣品, Sample n
由一群類似的項目中隨機抽取代表性的小部份數量。

變數, Parameters
決定群體的特性的元素(因子)。

平均值, Mean (Average) X-bar
抽樣中,其所有讀數的總和除以其共有多少讀數。

規格中心 Mean of specification, m
設計者之理想(規格中心)值

中位數, Median
一組排序資料中的中間值。

眾數, Mode
最時常的(價)值。

偏差, Deviation
測量從一個標準或參考值的發散情形。

標準差, Standard Deviation s (Sigma)
一種(與群體)平均值所產生的平均偏差

變異數, Variance V=s 2
偏差平方和的平均數(標準差的平方)。

樣本標準差, s或s (x-bar)
一種(與樣本)平均值所產生的平均偏差。

RMSD Root-Mean-Squared-Deviation
平均偏差根(均方根)。

全距, Range R
最大讀值與最小讀值的差值。

變異性, Variability
測量讀值與平均值距離的變化 (正常製程變異性=3s )

固有製程變異性, Inherent Process Variability
在統計管制的狀態操作時之原有製程變異。

Upper Control Limit, UCL
管制規格上限。

Lower Control Limit, LCL
管制規格下限。

Upper specification limit (upper tolerance limit), USL
規格上限(規格公差上限),有時也以Su表示。

Lower specification limit (lower tolerance limit), LSL
規格下限(規格公差下限),有時也以Sl表示。

製程能力, process capability
在一已知特性下,其固有製程變異性的統計測量 ; 通常以 6 s為考量。

規格公差, Tolerance, T
即 T=USL-LSL, 一般以T=8s為考量。

製程精密度, Process Capability of Precision, Cp,
公差界限值除以製程能力;通常以(Su-Sl)/6 s雙邊規格為考量。而若為單邊規格時或不對稱雙邊規格時,則取規格公差上限與平均值之差值(Su-X-bar)或平均值與規格公差下限(X-bar-Sl)除以3s, 即為一般之Cpu=(Su-X-bar)/3s 與 Cpl=(X-bar-Sl)/3s

製程準確度, Process Capability of Accuracy, Ca
製程樣本平均值與規格中心值之差值除以規格公差之半, 即 C a =(X-bar-m)/(T/2) 。

製程能力指數 Process Capability Index, Cpk


取Cpu 與 Cpl 之最小值,即Cpk=min{Cpu, Cpl}; 一般又以Cpk=(|Ca|)Cp 來表示,而此式若為單邊格時,Cpk=Cp ,同時請記得要取絕對值。

能力指數Capability Index, Cpm
在所指定的目標裡,其近似規格中心 m的製程近似值,一般又稱為田口能力指數(Taguchi Capability Index) 。

能力指數Capability Index, Cm
機器(設備)離散程度的Cp測量值。

能力指數Capability Index, Cmk
除機器(設備)的離散量測值,還加上其實際之設定值,一般工廠端的Cpk即為Cmk且其值應不小於1.33。

3s
一般的常態變異性(單邊展開)。

6s
全常態製程之變異性(雙邊展開,為一鐘的形狀曲線,Bell Curve)