CP/CPK与不合格率对应表

同意楼上几位的观点，在无偏情况下完全可以用正态分布的概率去计算。
如CP=1，过程控制达到3sigma水平，那么其中的概率就是2*φ（3）-1，φ（3）可以查标准正态分布表得出为0.9987，那么取其区间的概率为99.74%，与表对比相差0.01%是由于标准正态分布表（网上的表是保留小数点后4位）保留的有效数字位数不足出现的小误差，可以忽略。

如果是有偏的情况下，已知CPK值无法算出合格率，还需要偏移量。如已知CPK=1，偏移了1.5sigma，那么经过计算可以得出T=12sigma，单边为6sigma，算上偏移量则分别为-4.5和7.5，合格率就等于φ（7.5）+φ（4.5）-1，查表后可得出其值为99.999660%。

所以说CPK低不能完全肯定合格率低，还要看其偏移量。但可以说在同等过程控制水平下，有偏的合格率肯定比无偏的合格率高。

附件是偏移0.5sigma情况下，不同CPK对应的合格率，希望对各位有帮助。