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测试条件:
Condition B: - 55℃ to 125℃
Condition C: - 65℃ to 150℃
失效机制:电介质的断裂,材料的老化(如bond wires), 导体机械变形
参考标准:
MIT-STD-883E Method 1011.9
JESD22-B106
EIAJED- 4701-B-141
cross section, 叫做切片试验, 是一种mechanical 失效分析手段,去就是把PCBA 局部切割下来,然后moudling, 再在研磨设备上,慢慢研磨,然后去目视化确认IC BGA的焊接可靠性。