有没有好的关于西格玛换算的书推荐一下啊
CP与控制图可行性的关系:
简便的σ计算方法:
3σ(R)=D4(R-bar) (组内变差)
3σ(R-bar) (组间变差)=A2 (X-bar-bar)
当n=5时,D4=2.114;A2=0.577,则σ(R)=σ(X)/2.114*0.577
当CP=1.33时8σ(X)=T,则σ(X)=T/8
此时对于产品检验,检具分辨率(最大允许误差)达到1/5原则,达到T/5即可,而对拟用于进行过程监控(SPC)的检具,则对其分辨率等要求可想而知!
这段是我从我看的一份资料中摘取而来的,书中的专业术语让我非常的迷惑,请教高人,谁知道有哪本关于这个方面基础的书给推荐一下!!
谢谢!
简便的σ计算方法:
3σ(R)=D4(R-bar) (组内变差)
3σ(R-bar) (组间变差)=A2 (X-bar-bar)
当n=5时,D4=2.114;A2=0.577,则σ(R)=σ(X)/2.114*0.577
当CP=1.33时8σ(X)=T,则σ(X)=T/8
此时对于产品检验,检具分辨率(最大允许误差)达到1/5原则,达到T/5即可,而对拟用于进行过程监控(SPC)的检具,则对其分辨率等要求可想而知!
这段是我从我看的一份资料中摘取而来的,书中的专业术语让我非常的迷惑,请教高人,谁知道有哪本关于这个方面基础的书给推荐一下!!
谢谢!
没有找到相关结果
已邀请:
2 个回复
yanhe100 (威望:0) (广东 深圳) 计算机相关
赞同来自: