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关于过程能力分析疑惑

本帖最后由 monkeychild 于 2011-2-10 09:33 编辑

各位大虾:在过过程能力分析的时候小弟遇到一些疑问,请各位指点
1.采用mintab分析的时候填“历史均值”是将所做的数据取均值吗?还是?
2.“历史标准差”填写和不添为什么差异很大?其中照片1为没填标准差,照片2填写了“历史标准差”
3.小弟是做半导体(光学方面);对于测试的参数(光辐射功率)没有严格的上下限,是否自己给定上下限?有什么说道吗?
4.在测试光辐射功率时候前面主要分三道工序(外延、芯片制作、简易封装),我考核的过程能力是以上那个工序的呢?(我取样采用的每片5pcs Chip)
以上问题请大师指点????????????????
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suming (威望:1) (山东 潍坊) 汽车制造相关 主管

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我试着回答下你的问题吧,说的不对的,还请见谅
1、历史均值不是用你所取得数据求均值填写上,而是看你有没有历史数据,如果有的话,就用历史数据还估计整体的均值,就填上,没有就不用填写了。是否填写历史均值的主要目的是对整体均值的一个估计,主要是看用什么来估计整体的均值;
2、我的理解因为任何过程都是存在波动的,因此你填写的历史均值估计的总体参数与你采集的相关数据估计的总体参数存在差异,因此结果就出现了偏差;
3、上下限的填写主要目的是看数据是否超过这个严格的限制,在minitab里面是必须要填写的,如果不填写,是不能计算的;如果实在没有上下限,建议你看看历史数据,设定一个上下限;
4、由于我对光学不是很了解,因此,大概的说一下,因为你测定的这个指标也就是我们说的y,应该是要测定过程的输出,因此,你可以看看它到底是那个流程节点的输出呢?只要确定了这个,你的问题也就回答了。
不对之处,还请海涵

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