I－MR-S控制图中Cpk的计算
做休哈特控制图时有一点要求，那就是组内变差要远远大于组间变差。
我做某一道工序的控制图时就碰到了问题：
即：组内方差占总方差的68％，组间方差占32％。虽然有组内方差>组间方差，
但不是“远远”，导致X－bar控制线过紧。
而组内各点又有一定的相关性。
权衡之后，使用I-MR-S 图，问题是，即使该图达到控制（I，MR，S均受控），
做X－S图仍为不受控。
那么Cpk是否仍然不可以计算而只能用Pp？我个人倾向于此。
我做某一道工序的控制图时就碰到了问题：
即：组内方差占总方差的68％，组间方差占32％。虽然有组内方差>组间方差，
但不是“远远”，导致X－bar控制线过紧。
而组内各点又有一定的相关性。
权衡之后，使用I-MR-S 图，问题是，即使该图达到控制（I，MR，S均受控），
做X－S图仍为不受控。
那么Cpk是否仍然不可以计算而只能用Pp？我个人倾向于此。
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8 个回复
tiaoti11 (威望:0) (广东 东莞) 在校学生 工程师
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我的意思是能否计算潜在过程能力Cpk。它的要求是工序处于统计稳态。