测量系统的稳定性

请教一个关于测量系统稳定性的问题
有一光栅测量系统，测量组件焊接后高度，最近出现测量后频繁扔废品，但这些产品经过复检后是合格的。在做测量系统的偏移研究之前，想了解该光栅测量系统的稳定性，于是设计以下实验：
20件合格产品，每件产品测量3次。

采用控制图来研究测量系统的稳定性，以每件产品3次测量值作为一个子组，共20个子组。
测量数据如下：
序号 第一次 第二次 第三次
1 26.21 26.17 26.20
2 26.15 26.22 26.16
3 26.25 26.26 26.25
4 26.45 26.14 26.15
5 26.28 26.39 26.23
6 26.19 26.21 26.23
7 26.10 26.15 26.16
8 26.18 26.18 26.19
9 26.23 26.20 26.25
10 26.18 26.24 26.21
11 26.10 26.23 26.12
12 26.18 26.20 26.19
13 26.18 26.07 26.10
14 26.18 26.20 26.19
15 26.27 26.27 26.26
16 26.29 26.29 26.27
17 26.29 26.25 26.25
18 26.18 26.14 26.21
19 26.15 26.11 26.17
20 26.15 26.16 26.18
Minitab控制图结果：


Height 的 Xbar 控制图检验结果

检验 1。1 个点，距离中心线超过 3.00 个标准差。
检验出下列点不合格: 5

检验 5。3 点中有 2 点，距离中心线超过 2 个标准差（在中心线的同一侧）
检验出下列点不合格: 16


Height 的 R 控制图检验结果

检验 1。1 个点，距离中心线超过 3.00 个标准差。
检验出下列点不合格: 4

警告 如果使用新数据更新图形，以上结果可能不再正确。


贴不上图啊:mad:


请问整个过程有没有问题，能否得出该测量系统不稳定的结论？