关于CPK取样

我遇到一个问题想请教大家一下

我们要控制一个高度的尺寸，理论两个平面之间的距离是没有高低点的，但是实际过程中无法避免的出现有最高点，我取样测量的时候如果测到最高点就要超差，我现在认为只要避开最高点测量该数据就可以，想请教一下大家，如果我避开最高点测量，每次测量的点肯定不可能控制在同一点，这样计算出来的cpk值会有影响吗？

如果生产线人员要求我给出具体标准要求避开最高点多少距离内来测量，虽然我认为这样操作性很小，但是这是合理要求吗？