有关CPK计算的前提条件的疑问
在《六西格玛核心教程 黑带读本》中描述:讨论过程能力指数是下二个基本假设下进行,一是过程稳定、二是过程的质量特性X服从正态分布。X服从正态分布可通过下面二个方法之一进行检验:一是使用均值极差可均值标准差控制图确认过程受控;二是使用正态概率纸确认质量特性X的数据在一直线附近
请问:
1、按以上的描述,是否可理解为控制图确认过程受控数据就一定服从正态分布?但用数据试过,不一定成立,请问为何?
2、CPK计算为何前提要数据服从正态分布,而PPK则无此要求?因为两者的计算原理都是一样的,区别只是一个用组内的标准差、一个用总体标准差。为何一个有要求,一个无要求,难倒就是因为长期的数据难以保正服从正态分布吗?其实短期的数据这么少,不更难保证服从正态分布?我想原因会不会是与缺陷率计算有关,因该书后面说有介绍CPK与缺陷率的关系,但无计算PPK与缺陷率的关系,是否PPK不能用一估计缺陷率,因为其数据不服从正态分布(缺陷率的计算是基于正态分布原理)
望有高手解答!!!!!
请问:
1、按以上的描述,是否可理解为控制图确认过程受控数据就一定服从正态分布?但用数据试过,不一定成立,请问为何?
2、CPK计算为何前提要数据服从正态分布,而PPK则无此要求?因为两者的计算原理都是一样的,区别只是一个用组内的标准差、一个用总体标准差。为何一个有要求,一个无要求,难倒就是因为长期的数据难以保正服从正态分布吗?其实短期的数据这么少,不更难保证服从正态分布?我想原因会不会是与缺陷率计算有关,因该书后面说有介绍CPK与缺陷率的关系,但无计算PPK与缺陷率的关系,是否PPK不能用一估计缺陷率,因为其数据不服从正态分布(缺陷率的计算是基于正态分布原理)
望有高手解答!!!!!
没有找到相关结果
已邀请:
9 个回复
Edmonn.Mao (威望:5) (江苏 苏州) 电子制造 工程师 - 供应商管理 体系 工具
赞同来自: 张建鑫
第二个问题:PPK是从过程的总波动角度考察过程输出满足客户要求的能力.是长期的一个过程能力指数.它既包括了过程的固有波动,也包括过程受其它因素的影响而产生的波动. 比如说技术差异,设备调整,机器性能老化等等. 所以长期以来的值是一般不会满足正态的.所以是用标准差进行估计.
不知道上述回答能不能帮到你